對(duì)比參考試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊|4A測厚階梯試塊標(biāo)準(zhǔn)厚度塊|GHF試塊4|GZ試塊5|半圓試塊SH-16|模擬試塊H-30|模擬試塊H-50|模擬試塊H-807|靈敏度試塊CS-1|靈敏度試塊A1|靈敏度試塊A2|對(duì)比試塊DZ-1|盲區(qū)試塊|微盲區(qū)試塊STM-1、 STM-2|水平線性試塊1-3#|分辨力試塊|射線階梯試塊|提升力試塊|A型便攜式相控陣試塊|B型便攜式相控陣試塊||
主要用于測定直探頭和儀器組合的靈敏度余量，調(diào)節(jié)探傷靈敏度，確定缺陷大小及測定儀器的垂直線性等性能指標(biāo)及形狀。尺寸和形狀如下圖表：
