便攜相控陣試塊具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和官孔以模擬缺陷，可用來校準相控陣超聲探傷儀扇掃成像橫向（縱向）分辨力、短缺陷分辨力、扇掃角度分辨力等。按照不同功能分 為A型便攜式相控陣試塊和B型便攜式相控陣試塊，具體結(jié)構(gòu)及參數(shù)如下。

A型便攜式相控陣試塊

B型便攜式相控陣試塊

超聲相控陣B型試塊是一種具有特定結(jié)構(gòu)和缺陷的試塊，用于超聲相控陣檢測系統(tǒng)中，以模擬實際工件中的缺陷情況，從而校準檢測設(shè)備的性能、驗證檢測工藝的有效性，并評估檢測結(jié)果的準確性。

功能作用

主要用于測試成像橫向和縱向幾何尺寸測量誤差、扇掃角度范圍誤差和扇掃角度分辨力。

類型

根據(jù)用途和標準不同，可分為校準試塊、對比試塊和模擬試塊等。具體如下：

• 校準試塊：通常具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和盲孔，用于校準超聲相控陣檢測設(shè)備的聲速、楔塊延時、ACG、TCG等參數(shù)。

• 對比試塊（參考試塊）：具有與待檢測工件相似的結(jié)構(gòu)和材料特性，并包含一系列已知的缺陷，用于與待檢測工件進行對比，評估檢測結(jié)果的準確性和可靠性。

• 模擬試塊（演示試塊）：用于模擬實際檢測過程中的復(fù)雜情況，如焊縫坡口成像、焊接自然缺欠等，以驗證檢測工藝的有效性和評估檢測人員的技能水平。

結(jié)構(gòu)特點

一般來說，B型試塊上有不同區(qū)域，如B-1區(qū)、B-2區(qū)、B-3區(qū)等，每個區(qū)域有不同的結(jié)構(gòu)設(shè)計，例如B-1區(qū)有一系列通孔用于測量成像橫向幾何尺寸測量誤差等。

應(yīng)用領(lǐng)域

在無損檢測領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，特別是在核工業(yè)、航空工業(yè)等對檢測精度和可靠性要求較高的領(lǐng)域。

相關(guān)標準

通常遵循國際或國內(nèi)的相關(guān)標準，如ISO2400、ISO19675、GB/T32563以及ASME、ASTM E2491-08等標準。

使用方法

• 成像橫向幾何尺寸測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-1區(qū)一系列通孔的左端面及B-2區(qū)一系列通孔的下端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實現(xiàn)線性掃查或扇形掃查得到清晰圖像，測量不同孔圖像之間的橫向距離測量值，計算與標稱值的差值。

• 成像縱向幾何尺寸測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-1區(qū)一系列通孔下端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實現(xiàn)線性掃查或扇形掃查得到清晰圖像，測量不同孔圖像之間的縱向距離測量值，計算與標稱值的差值。

• 扇掃角度范圍測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-3區(qū)一系列通孔的上端面，設(shè)定不同的扇形掃查角度范圍，調(diào)節(jié)設(shè)備實現(xiàn)扇形掃查得到清晰的圖像，數(shù)出缺陷圖像的數(shù)目并計算實際掃查角度。

• 扇掃角度分辨力：將探頭放置在試塊B中B-3區(qū)一系列的上端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實現(xiàn)扇形掃查，圖像中所能分開的最小角度間距即為該工作狀態(tài)下的扇掃角度分辨力。